TDS PDF
Руководство по ускоренным ресурсным испытаниям надёжности монолитных СВЧ-интегральных схем GaAs на транзисторах PHEMT/MESFET и HBT. Оригинальный документ JEP118A-2018 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Процедура выполнения ускоренного испытания на электромиграцию на уровне пластины (SWEAT). Оригинальный документ JEP119A-2003 (Reaffirmed October 2012) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Требования к оптимизации отбраковки и испытаний микроэлектронных изделий. Оригинальный документ JEP121B-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Механизмы и модели отказов полупроводниковых приборов. Оригинальный документ JEP122H-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Руководство по упаковке и маркировке интегральных схем в первичной таре (тубы, лотки и лента на катушке). Оригинальный документ JEP130C-2023 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Анализ видов и последствий потенциальных отказов (FMEA). Оригинальный документ JEP131C-2018 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий