Ст JEP133C-2010

Руководство по производству и закупке многокристальных модулей и гибридных микросхем с гарантированной радиационной стойкостью. Оригинальный документ JEP133C-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

Ст JEP137B-2004

Идентификационные коды общего интерфейса флеш-памяти (CFI). Оригинальный документ JEP137B-2004 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

Ст JEP138-1999

Руководство пользователя по определению температуры кристалла методом инфракрасной термографии. Оригинальный документ JEP138-1999 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

Ст JEP139-2000 (Reaffirmed October 2012)

Старение при постоянной температуре для определения характеристик образования пустот под действием механических напряжений в алюминиевой металлизации межсоединений. Оригинальный документ JEP139-2000 (Reaffirmed October 2012) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

Ст JEP143E-2025

Методологии оценки и квалификации надёжности твердотельных приборов. Оригинальный документ JEP143E-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

Ст JEP145-2003

Руководство по оценке допустимой токовой нагрузки выводов корпусной системы силового полупроводникового прибора. Оригинальный документ JEP145-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

TDS PDF