JEP122H-2016 PDF
Название на английском:
St JEP122H-2016
Название на русском:
Ст JEP122H-2016
Описание на русском:
Механизмы и модели отказов полупроводниковых приборов. Оригинальный документ JEP122H-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices. Original document JEP122H-2016 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
114
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
8 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000596
More technical details are being prepared for this document.