TDS PDF
Руководство по рейтинговой оценке деятельности поставщиков. Оригинальный документ JEP146B-2023 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Квалификация надёжности полупроводниковых приборов на основе физики отказов и оценки рисков и возможностей. Оригинальный документ JEP148B-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Процедура измерения разрушительных эффектов, вызванных наземным космическим излучением в силовых полупроводниковых приборах. Оригинальный документ JEP151A-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Руководство PartModel по классификации процессов сборки корпусов электронных приборов. Требования XML. Оригинальный документ JEP30-A100B.02-2025 в PDF. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Заменен
Руководство PartModel по электрическим характеристикам корпусов электронных приборов. Требования XML. Оригинальный документ JEP30-E100I-2025 в PDF. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Заменен
Руководство PartModel по наборам правил проектирования корпусов электронных приборов. Требования XML. Оригинальный документ JEP30-K100A-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Заменен