JEP121B-2020 PDF
Название на английском:
St JEP121B-2020
Название на русском:
Ст JEP121B-2020
Описание на русском:
Требования к оптимизации отбраковки и испытаний микроэлектронных изделий. Оригинальный документ JEP121B-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Requirements for Microelectronic Screening and Test Optimization. Original document JEP121B-2020 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
41
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000595
More technical details are being prepared for this document.