TDS PDF
Методы ресурсных испытаний фоторезисторов. Оригинальный документ JEP79-1969 в PDF. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Рекомендуемый порядок измерения температуры выводов транзистора. Оригинальный документ JEP84A-2004 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Измерения корпусов BGA с матрицей шариковых контактов и методология измерений. Оригинальный документ JEP95 Design Guide 4.17 Issue C-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Малогабаритные пластмассовые квадратные и прямоугольные безвыводные корпуса с четырёхсторонним и двухрядным расположением контактов (QFN/SON), с дополнительными средствами улучшения теплоотвода. Оригинальный документ JEP95 Design Guide 4.20 Issue F-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Квадратные безвыводные корпуса QFN на выводной рамке, разделяемые вырубкой, с малым шагом, сверхмалым и особо малым профилем и двумя рядами контактов в шахматном порядке, с дополнительными средствами улучшения теплоотвода. Оригинальный документ JEP95 Design Guide 4.23 Issue A-2005 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Квадратные и прямоугольные корпуса с мелкошаговой матрицей контактных площадок (FLGA, FRLGA). Оригинальный документ JEP95 Design Guide 4.25 Issue B-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий