JEP148B-2014 PDF
Название на английском:
St JEP148B-2014
Название на русском:
Ст JEP148B-2014
Описание на русском:
Квалификация надёжности полупроводниковых приборов на основе физики отказов и оценки рисков и возможностей. Оригинальный документ JEP148B-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Reliability Qualification of Semiconductor Devices Based on Physics of Failure and Risk and Opportunity Assessment. Original document JEP148B-2014 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
38
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000606
More technical details are being prepared for this document.