TDS PDF

Метод испытаний для определения предельной суммарной дозы рентгеновского излучения для устройств динамической оперативной памяти (DRAM). Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B130-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Метод испытаний по модели заряженного прибора, заряжаемого электрическим полем, для определения порогов стойкости микроэлектронных компонентов к электростатическому разряду. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-C101F-2013 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен

Универсальная флеш-память (UFS). Расширение унифицированной памяти. Версия 1.1. Оригинальный документ JEDEC JESD220-1A-2016 в PDF. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Расширение универсального флеш-хранилища (UFS) для карт, версия 1.1. Оригинальный документ JEDEC JESD220-2A-2018 в PDF. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Расширение универсального флеш-хранилища (UFS) для повышения производительности хоста (HPB), версия 1.0. Оригинальный документ JEDEC JESD220-3-2020 в PDF. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Универсальная флеш-память (UFS). Расширение оптимизации на основе файлов (FBO). Версия 1.01. Оригинальный документ JEDEC JESD220-4-2023 в PDF. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий