Ст JEDEC JESD235D-2021

Динамическая оперативная память с высокой пропускной способностью (HBM1, HBM2). Оригинальный стандарт JEDEC JESD235D-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

Ст JEDEC JESD236-2014

Квалификационные испытания надежности модулей усилителей мощности. Оригинальный стандарт JEDEC JESD236-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

Ст JEDEC JESD236-C-1986 (R2009)

Цветовая маркировка дискретных полупроводниковых приборов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD236-C-1986 (R2009) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

Ст JEDEC JESD237-2014

Квалификационные испытания надежности модулей усилителей мощности. Оригинальный стандарт JEDEC JESD237-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

Ст JEDEC JESD238B.01-2025

Динамическая память с высокой пропускной способностью HBM3. Оригинальный стандарт JEDEC JESD238B.01-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

Ст JEDEC JESD24-1-1989 (2002)

Метод измерения коммутационных потерь при выключении силовых полупроводниковых приборов. Оригинальный документ JEDEC JESD24-1-1989 (2002) в PDF. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.

Подробности

TDS PDF