TDS PDF

↑
Ст JEDEC JESD22-B114B-2020

Разборчивость маркировки. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B114B-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD22-B115A.01-2016

Испытание шариковых паяных выводов на отрыв. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B115A.01-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD22-B116B-2017

Метод испытания проволочных соединений на сдвиг. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B116B-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст JEDEC JESD22-B116C-2026

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD22-B116C-2026

Метод испытания сварных соединений проволочных выводов на сдвиг. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B116C-2026 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD22-B117B-2014 (Reaffirmed 2020)

Испытание шариковых выводов припоя на сдвиг. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B117B-2014 (Reaffirmed 2020) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD22-B118A-2021

Внешний визуальный контроль обратной стороны полупроводниковых пластин и кристаллов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B118A-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
↑