TDS PDF

↑
Ст JEDEC JESD22-B108B-2010

Контроль компланарности выводов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B108B-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD22-B109C-2021

Испытание перевернутого кристалла на отрыв. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B109C-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD22-B110B.01-2019

Механический удар. Приборы и сборочные узлы. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B110B.01-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD22-B111A.01-2024

Метод испытания компонентов портативных электронных изделий на падение на уровне печатной платы. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B111A.01-2024 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD22-B112C-2023

Измерение коробления корпусов интегральных схем поверхностного монтажа при повышенной температуре. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B112C-2023 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD22-B113C-2025

Метод циклических испытаний платы на изгиб для оценки надёжности межсоединений интегральных схем поверхностного монтажа в портативных электронных изделиях. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B113C-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
↑