JEDEC JESD22-B118A-2021 PDF
Название на английском:
St JEDEC JESD22-B118A-2021
Название на русском:
Ст JEDEC JESD22-B118A-2021
Описание на русском:
Внешний визуальный контроль обратной стороны полупроводниковых пластин и кристаллов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B118A-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor Wafer and Die Backside External Visual Inspection. Original standard JEDEC JESD22-B118A-2021 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
20
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000197
More technical details are being prepared for this document.