TDS PDF
Метод испытания теплового сопротивления сигнальных и стабилизирующих диодов (метод переключения с измерением прямого напряжения). Оригинальный стандарт JEDEC JESD531-1986 (Reaffirmed 2002) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Системы статистического управления процессами. Оригинальный стандарт JEDEC JESD557D-2023 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Методики испытаний для измерения одиночных эффектов в полупроводниковых приборах при облучении тяжёлыми ионами. Оригинальный стандарт JEDEC JESD57A-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Измерение малых значений ёмкости транзисторов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD6-1967 (2002) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Методика измерения деградации p-канальных МОП-транзисторов, вызванной горячими носителями, при воздействии постоянного электрического напряжения. Оригинальный стандарт JEDEC JESD60A-2004 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Методика изотермического испытания на электромиграцию. Оригинальный стандарт JEDEC JESD61A.01-2007 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий