JEDEC JESD57A-2017 PDF
Название на английском:
St JEDEC JESD57A-2017
Название на русском:
Ст JEDEC JESD57A-2017
Описание на русском:
Методики испытаний для измерения одиночных эффектов в полупроводниковых приборах при облучении тяжёлыми ионами. Оригинальный стандарт JEDEC JESD57A-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation. Original standard JEDEC JESD57A-2017 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
56
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
5 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000399
More technical details are being prepared for this document.