TDS PDF

↑
Ст JEDEC JESD49B.01-2023

Стандарт закупки полупроводниковых кристаллов, включая заведомо годные кристаллы (KGD). Оригинальный стандарт JEDEC JESD49B.01-2023 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD5-1982 (2002)

Измерение температурного коэффициента напряжения стабилитронов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD5-1982 (2002) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD50C-2018

Специальные требования к исключению аномальной продукции и управлению изделиями со статистически отклоняющимися параметрами. Оригинальный стандарт JEDEC JESD50C-2018 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD51-10-2000

Испытательные платы для измерения тепловых характеристик корпусов со штыревыми выводами по периметру для монтажа в отверстия. Оригинальный стандарт JEDEC JESD51-10-2000 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD51-11-2001

Испытательные платы для тепловых измерений корпусов с матрицей выводов для монтажа в отверстия. Оригинальный стандарт JEDEC JESD51-11-2001 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD51-12.01-2012

Рекомендации по представлению и использованию информации о тепловых характеристиках корпусов электронных компонентов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD51-12.01-2012 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
↑