TDS PDF
Измерение параметров проводимости транзисторов в малосигнальном режиме на частотах ОВЧ и УВЧ. Оригинальный стандарт JEDEC JESD372-1970 (R2009) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Логнормальный анализ нецензурированных и однократно цензурированных справа данных методом Перссона и Рутцена. Оригинальный стандарт JEDEC JESD37A-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Метод измерения добротности Q диода. Оригинальный стандарт JEDEC JESD381A-1981 (R2002) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Измерение малых значений емкости транзисторов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD398-1972 (Reaffirmed 2009) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Определение внешних воздушных зазоров и путей утечки корпусов дискретных полупроводниковых приборов- тиристоров и выпрямительных диодов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD4-1983 (2002) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Содержимое данных последовательного определения присутствия (SPD) для DDR5. Оригинальный стандарт JEDEC JESD400-5A.01-2023 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Заменен