TDS PDF
Стандарт измерения параметра CRE. Оригинальный стандарт JEDEC JESD340-1967 (R2009) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Методика испытаний тонких диэлектриков на уровне полупроводниковой пластины. Оригинальный стандарт JEDEC JESD35-A-2001 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Заменен
Измерение коэффициента шума транзистора на частотах до 20 кГц методом генератора синусоидального сигнала. Оригинальный стандарт JEDEC JESD353-1968 (R2009) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Измерение эквивалентного напряжения шума и эквивалентного тока шума транзисторов на частотах до 20 кГц. Оригинальный стандарт JEDEC JESD354-1968 (Reaffirmed 2009) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Система обозначений полупроводниковых приборов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD370B-1982 (R2003) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Измерение прямого коэффициента передачи тока транзисторов при коротком замыкании в малосигнальном режиме на частотах ОВЧ и УВЧ. Оригинальный стандарт JEDEC JESD371-1970 (R2009) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий