BS ISO 18114-2003 (2008) PDF

СТБ BS ISO 18114-2003 (2008)

Название на английском:
STB BS ISO 18114-2003 (2008)

Название на русском:
СТБ BS ISO 18114-2003 (2008)

Описание на русском:

Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение относительных коэффициентов чувствительности по ионно-имплантированным эталонным материалам. Оригинальный стандарт BS ISO 18114-2003 (2008) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Описание на английском:
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials. Original standard BS ISO 18114-2003 (2008) in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
14

Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)

Артикул (SKU):
stbs61278

Выберите версию документа:
6 000 руб.
More technical details are being prepared for this document.