BS ISO 22415-2019 PDF
Название на английском:
STB BS ISO 22415-2019
Название на русском:
СТБ BS ISO 22415-2019
Описание на русском:
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод определения объема выхода при профилировании глубины органических материалов методом распыления кластерами аргона. Оригинальный стандарт BS ISO 22415-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials. Original standard BS ISO 22415-2019 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
38
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stbs36265
More technical details are being prepared for this document.