TDS PDF

↑
Ст JEDEC JESD270-4-2025

Динамическая память с высокой пропускной способностью HBM4. Оригинальный стандарт JEDEC JESD270-4-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст JEDEC JESD270-4A-2025

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD270-4A-2025

Динамическая оперативная память с высокой пропускной способностью (HBM4). Оригинальный стандарт JEDEC JESD270-4A-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD28-1-2001

Анализ данных о воздействии горячих носителей в n-канальных МОП-транзисторах. Оригинальный документ JEDEC JESD28-1-2001 в PDF. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD28-A-2001

Методика измерения деградации n-канальных МОП-транзисторов, вызванной горячими носителями, при воздействии постоянного электрического напряжения. Оригинальный стандарт JEDEC JESD28-A-2001 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD282B.02-2023

Кремниевые выпрямительные диоды. Оригинальный стандарт JEDEC JESD282B.02-2023 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст JEDEC JESD284A-1963 (R2002)

Методы измерения постоянной времени коллектор–база и активной составляющей входного импеданса в схеме с общим эмиттером. Оригинальный стандарт JEDEC JESD284A-1963 (R2002) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
↑