JEDEC JESD28-A-2001 PDF
Название на английском:
St JEDEC JESD28-A-2001
Название на русском:
Ст JEDEC JESD28-A-2001
Описание на русском:
Методика измерения деградации n-канальных МОП-транзисторов, вызванной горячими носителями, при воздействии постоянного электрического напряжения. Оригинальный стандарт JEDEC JESD28-A-2001 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Procedure for Measuring N-Channel MOSFET Hot-Carrier-Induced Degradation Under DC Stress. Original standard JEDEC JESD28-A-2001 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
20
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000267
More technical details are being prepared for this document.