TDS PDF
Стандарт интерфейса цифровых интегральных схем с номинальным напряжением питания 3 В/3,3 В. Оригинальный стандарт JEDEC JESD8C.01-2007 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Методика измерения температурной нестабильности p-канальных МОП-транзисторов при отрицательном смещении. Оригинальный стандарт JEDEC JESD90-2004 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Заменен Ст JEDEC JESD241-2015
Метод разработки моделей ускорения механизмов отказов электронных приборов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD91B-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Методика определения характеристик зависящего от времени пробоя сверхтонких подзатворных диэлектриков. Оригинальный стандарт JEDEC JESD92-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Заменен
Многокристальные модули (MCM). Оригинальный стандарт JEDEC JESD93A-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Квалификационные испытания с учётом конкретного применения на основе методологии испытаний, использующей накопленные знания. Оригинальный стандарт JEDEC JESD94B-2015 (R2021) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий