JEDEC JESD92-2003 PDF
Название на английском:
St JEDEC JESD92-2003
Название на русском:
Ст JEDEC JESD92-2003
Описание на русском:
Методика определения характеристик зависящего от времени пробоя сверхтонких подзатворных диэлектриков. Оригинальный стандарт JEDEC JESD92-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Procedure for Characterizing Time-Dependent Dielectric Breakdown of Ultra-Thin Gate Dielectrics. Original standard JEDEC JESD92-2003 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Заменен JEDEC JESD263-2024
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
32
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000542
More technical details are being prepared for this document.