BS ISO 16531-2013 PDF
Название на английском:
STB BS ISO 16531-2013
Название на русском:
СТБ BS ISO 16531-2013
Описание на русском:
Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и соответствующего измерения тока или плотности тока для профилирования по глубине в Оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Оригинальный стандарт BS ISO 16531-2013 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis. Depth profiling. Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS. Original standard BS ISO 16531-2013 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
30
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stbs61127
More technical details are being prepared for this document.