JIS C 2162-2010 PDF
Название на английском:
St JIS C 2162-2010
Название на русском:
Ст JIS C 2162-2010
Описание на русском:
Метод испытания долговременной надежности подзатворного диэлектрика приборов на основе карбида кремния (SiC) при высокой температуре Оригинальный стандарт JIS C 2162-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature Original standard JIS C 2162-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
14
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stjis001590
More technical details are being prepared for this document.