JEDEC JESD74A-2007 PDF
Название на английском:
St JEDEC JESD74A-2007
Название на русском:
Ст JEDEC JESD74A-2007
Описание на русском:
Методика расчёта интенсивности ранних отказов полупроводниковых компонентов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD74A-2007 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Early Life Failure Rate Calculation Procedure for Semiconductor Components. Original standard JEDEC JESD74A-2007 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
38
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000423
More technical details are being prepared for this document.