JEDEC JESD51-31-2008 PDF
Название на английском:
St JEDEC JESD51-31-2008
Название на русском:
Ст JEDEC JESD51-31-2008
Описание на русском:
Изменения условий проведения тепловых испытаний многокристальных корпусов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD51-31-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Thermal Test Environment Modifications for MultiChip Packages. Original standard JEDEC JESD51-31-2008 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
18
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000384
More technical details are being prepared for this document.