JEDEC JESD241-2015 PDF
Название на английском:
St JEDEC JESD241-2015
Название на русском:
Ст JEDEC JESD241-2015
Описание на русском:
Методика определения на уровне пластины характеристик нестабильности при воздействии напряжения смещения и температуры в режиме постоянного тока. Оригинальный стандарт JEDEC JESD241-2015 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Procedure for Wafer-Level DC Characterization of Bias Temperature Instabilities. Original standard JEDEC JESD241-2015 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
32
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000246
More technical details are being prepared for this document.