ISO 16531-2013 PDF
Название на английском:
St ISO 16531-2013
Название на русском:
Ст ISO 16531-2013
Описание на русском:
Химический анализ поверхности - Профилирование по глубине - Методы выравнивания ионного пучка и связанного с этим измерения тока или плотности тока для профилирования по глубине в Оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Оригинальный стандарт ISO 16531-2013 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS. Original standard ISO 16531-2013 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Заменен Ст ISO 16531-2020
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
26
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiso36066
More technical details are being prepared for this document.