EIA JEDEC JESD57-1996 PDF
Название на английском:
St EIA JEDEC JESD57-1996
Название на русском:
Ст EIA JEDEC JESD57-1996
Описание на русском:
Методы испытаний для измерения одиночных эффектов в полупроводниковых приборах при облучении тяжёлыми ионами. Оригинальный стандарт EIA JEDEC JESD57-1996 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation. Original standard EIA JEDEC JESD57-1996 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Заменен Ст JEDEC JESD57A-2017
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
49
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Steia000228
More technical details are being prepared for this document.