EIA JEDEC JEP134-1998 PDF
Название на английском:
St EIA JEDEC JEP134-1998
Название на русском:
Ст EIA JEDEC JEP134-1998
Описание на русском:
Рекомендации по подготовке исходной информации, предоставляемой заказчиком для анализа отказа полупроводникового прибора. Оригинальный стандарт EIA JEDEC JEP134-1998 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Guidelines for Preparing Customer-Supplied Background Information Relating to a Semiconductor-Device Failure Analysis. Original standard EIA JEDEC JEP134-1998 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
18
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Steia000214
More technical details are being prepared for this document.