EIA JEDEC JEP128-1996 PDF
Название на английском:
St EIA JEDEC JEP128-1996
Название на русском:
Ст EIA JEDEC JEP128-1996
Описание на русском:
Руководство по стандартным размерам и расположению зондовых контактных площадок для электрических испытаний на уровне пластины. Оригинальный стандарт EIA JEDEC JEP128-1996 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Guide for Standard Probe Pad Sizes and Layouts for Wafer-Level Electrical Testing. Original standard EIA JEDEC JEP128-1996 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
7
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Steia000213
More technical details are being prepared for this document.