Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation

Описание на русском:
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Статус документа:

Действующий

Формат:

Электронный (PDF)

Количество страниц:

Срок поставки (английская версия):

5 рабочих дня(ей)

Срок поставки (русская версия):

1 рабочий день

Артикул (SKU):

GOST38867

ГОСТ Р 57394-2017