IEC 60749-37-2008 PDF
Название на английском:
St IEC 60749-37-2008
Название на русском:
Ст IEC 60749-37-2008
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 37- Метод испытания на падение уровня платы с использованием акселерометра. Оригинальный стандарт IEC 60749-37-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer. Original standard IEC 60749-37-2008 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Заменен Ст IEC 60749-37-2022
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
39
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec12220
More technical details are being prepared for this document.