IEC 60444-2-1980 PDF
Название на английском:
St IEC 60444-2-1980
Название на русском:
Ст IEC 60444-2-1980
Описание на русском:
Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 2- Метод фазового смещения для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов. CEI/IEC 60444-2:1980. Оригинальный стандарт IEC 60444-2-1980 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2- Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units. CEI/IEC 60444-2:1980. Original standard IEC 60444-2-1980 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
22
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec02055
More technical details are being prepared for this document.