ASTM STP 155-1954 PDF

Полное наименование и описание

Symposium on Techniques for Electron Metallography — сборник материалов (STP 155) по методикам электронной металлографии, подготовленный комитетом E‑4 ASTM. Включает доклады и технические статьи по подготовке образцов, методам репликации, контрастированию и другим приёмам исследования металлов в электронном микроскопе.

Аннотация

Том STP 155 собран по результатам симпозиума и содержит ряд статей, раскрывающих практические техники электронной металлографии: работа с алюминиевыми сплавами, изучение карбидных фаз, интерпретация инорганических реплик, извлечение реплик для стали, методы теневого напыления, шлифование и полировка образцов, промывка реплик и подбор травителей для выявления тонкой структуры. Сборник ориентирован на методологию и практические приёмы, а не на нормативную спецификацию.

Общая информация

• Статус: Публикация STP (симпозиумальный том), историческое издание; доступна в каталоге ASTM и библиотечных фондах (встречается в общедоступных карточках как действующая/доступная публикация).
• Дата публикации: 1954 (в карточке издателя указан год издания тома STP 155).
• Организация-издатель: ASTM (American Society for Testing and Materials, сейчас ASTM International).
• ICS / категории: области металлургии и испытаний металлов (ICS: класс, относящийся к металлургии/испытанию металлов — в классификации тематически близкие категории 77.x).
• Редакция / версия: STP 155 — симпозиумальный том (код DOI: 10.1520/STP155-EB; электронные/печатные издания могут иметь разные ISBN).
• Количество страниц: Не указано в общедоступных метаданных издателя/каталогов для конкретного издания; сведения о точном объёме страниц зависят от конкретной печатной или электронной версии. (Доступные карточки в библиотеках подтверждают наличие, но не всегда содержат полную информацию о числе страниц.)

Область применения

Сборник служит руководством по практическим приёмам электронной металлографии: подготовка тонких образцов и реплик для трансмиссионной и сканирующей электронной микроскопии, методы повышения контрастности, подбор травителей и техники полировки — полезен в научных лабораториях, металлургических и материаловедческих исследовательских центрах, при экспертизе повреждений и изучении фазового состава металлов.

Ключевые темы и требования

• Методики репликации и интерпретация электронных микрофотографий.
• Подготовка образцов: шлифование, полировка, травление для ЭМ.
• Техники для исследовании алюминиевых и ферросплавов.
• Методы повышения контрастности (теневое напыление, угол напыления).
• Последовательные исследования одних и тех же участков (маркировка/возврат к области).
• Практические приёмы и рекомендации по промывке и обращению с репликами.

Применение и пользователи

Основные пользователи: исследователи и инженеры в области материаловедения и металлургии, лаборатории контроля качества и экспертизы, академические группы, использующие трансмиссионную и сканирующую электронную микроскопию для изучения микроструктуры металлов и сплавов. Сборник полезен как практическое руководство и исторический свод методик середины XX века.

Связанные стандарты

Материалы тома тематически связаны с другими сборниками и руководствами ASTM по электронной металлографии и методам подготовки образцов (например, последующие STP‑тома по электронной металлографии — номера STP 245, STP 262 и др.), а также с текущими методами и терминологией ASTM для металлографических испытаний.

Ключевые слова

электронная металлография, репликация, подготовка образцов, травление, полировка, трансмиссионная электронная микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, микроструктура, ASTM STP 155.

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: Это не «стандарт» в классическом смысле, а симпозиумальный том (STP 155) — сборник статей по техникам электронной металлографии, опубликованный ASTM как Special Technical Publication.

В: Что он регулирует?

О: Том описывает методики и практики проведения электронных металлографических исследований; он даёт рекомендации и описание приёмов, но не является нормативным документом, устанавливающим обязательные требования.

В: Кто обычно использует?

О: Исследователи, лаборатории материаловедения, инженеры по контролю качества и эксперты по микроструктуре металлов, а также преподаватели и студенты, изучающие методы электронной металлографии.

В: Он актуален или заменён?

О: Как исторический сборник, том сохраняет практическую и историческую ценность; однако методики ЭМ активно обновлялись в последующие десятилетия, и для современного практического применения следует сопоставлять с более поздними руководствами и стандартами ASTM. В библиографических карточках дата публикации фиксируется как 1954.

В: Это часть серии?

О: Да — это том серии STP (Symposia — Special Technical Publications) ASTM; комитет E‑4 ежегодно публиковал и выпускает другие тома по смежным темам электронной металлографии.

В: Какие ключевые слова?

О: электронная металлография, реплики, подготовка образцов, травление, полировка, контрастирование, TEM, SEM, микроструктура, ASTM STP.

Краткое замечание о найденных данных: для подготовленной карточки использованы открытые каталожные записи и карточки издателя (ASTM). Некоторая метаинформация (в частности точное число страниц для конкретного печатного издания) не была явно указана в общедоступных карточках; при необходимости можно уточнить объём страниц по конкретному варианту издания (печатный/электронный) через библиотечную запись или через службу издателя.