IEC 63202-1-2019 PDF

Полное наименование и описание

IEC 63202-1:2019 — Photovoltaic cells. Part 1: Measurement of light‑induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells. Стандарт описывает процедуры измерения деградации, индуцированной светом (LID), для кристаллических кремниевых солнечных элементов при имитации солнечного излучения, с определением величины LID по сравнению максимальной выходной мощности при стандартных условиях до и после облучения.

Аннотация

Документ задаёт единообразную методику оценки начальной световой деградации (LID) солнечных элементов: условия имитированного солнечного облучения, температурные и лучистые параметры, процедура кондиционирования и измерений, а также способ расчёта изменения максимальной выходной мощности (Pmax) при стандартных условиях (STC). Цель — предоставить производителям и лабораториям стандартизированные данные о LID для снижения разброса характеристик внутри модулей и повышения суммарного выхода энергии.

Общая информация

• Статус: Международный стандарт, опубликован и действующий (Published / Active).
• Дата публикации: 20 июня 2019 г. (20 June 2019).
• Организация-издатель: Международная электротехническая комиссия (IEC), технический комитет TC 82 — Solar photovoltaic energy systems.
• ICS / категории: 27.160 (Solar energy engineering).
• Редакция / версия: Edition 1.0 (2019).
• Количество страниц: 17 страниц (основная публикация).

Область применения

Стандарт применяется к измерениям необ encapsulated (неэнкапсулированных) кристаллических кремниевых (c‑Si) солнечных элементов в лабораторных условиях для определения начальной световой деградации (LID) при заданной температуре и уровне освещённости. Рекомендуется для производителей ячеек и модулей, опытных и сертификационных лабораторий, отделов контроля качества и научно‑исследовательских групп, занимающихся оптимизацией состава и технологических режимов производства.

Ключевые темы и требования

• Определение и количественная оценка LID через сравнение Pmax при STC до и после выдержки под имитированным солнечным освещением.
• Требования к условиям облучения: спектр, продолжительность, освещённость и температурный режим испытания для воспроизводимости результатов.
• Процедуры кондиционирования образцов и набор рекомендуемых параметров измерений для последовательности испытаний и уменьшения разброса.
• Указания по учёту распределения выхода мощности между элементами одной партии/бина для оценки риска несоответствия при сборке модулей.
• Взаимосвязь с тестами на уровне модулей (серии IEC 61215) и необходимость дополнительных факторов при испытаниях ячеек, которые не учитываются в IEC 61215‑2.
• Рекомендации по использованию стандарта в качестве инструмента контроля качества производства и проверки мер по снижению LID/LETID.

Применение и пользователи

Основные пользователи: производители кремниевых солнечных элементов и фотопанелей, лаборатории приёмосдаточных и сертификационных испытаний, центры контроля качества, исследовательские подразделения, а также компании, разрабатывающие методы минимизации LID (процессы пайки, легирование, промывка, термообработка и пр.). Стандарт используется при разработке технологических карт, приёмочном контроле и валидации мер по улучшению энергоотдачи модулей.

Связанные стандарты

Стандарт тесно связан с другими документами для фотогальванических устройств и измерений: серия IEC 63202 (см. технические спецификации и части, дополняющие методы измерений ячеек), IEC 61215 (испытания и квалификация PV‑модулей), IEC 60904‑1 и IEC TS 60904‑1‑2 (измерения I–V и калибровка солнечных симуляторов). В серии IEC 63202 доступны/разрабатываются дополнительные части и TS, например Part 2 (Electroluminescence imaging), Part 3 (I‑V характеристики бифациальных ячеек) и Part 4 (LETID) — см. соответствующие публикации TC 82.

Ключевые слова

солнечные элементы, LID, light‑induced degradation, кристаллический кремний, PV cells, измерение I–V, стандарт испытаний, солнечный симулятор, STC, контроль качества.

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: Международный стандарт IEC 63202‑1:2019 задаёт методику измерения световой деградации (LID) кристаллических кремниевых солнечных элементов в имитированном солнечном освещении для количественной оценки ухудшения начальной выходной мощности.

В: Что он регулирует?

О: Описывает процедуру кондиционирования и испытаний, параметры облучения и температурные условия, метод сравнения Pmax при STC до/после облучения и требования к воспроизводимости измерений, чтобы обеспечить сопоставимые данные о LID между лабораториями и производителями.

В: Кто обычно использует?

О: Производители ячеек и модулей, лаборатории сертификации и испытаний, отделы контроля качества и исследовательские центры, которые оценивают влияние LID/LETID на выходную мощность и ищут способы её минимизации.

В: Он актуален или заменён?

О: По состоянию на 25 февраля 2026 года IEC 63202‑1:2019 остаётся опубликованным и действующим стандартом; в записях IEC указан срок стабильности (stability date) до 2029 года, то есть документ не объявлен заменённым или отозванным. При необходимости для подтверждения актуальности рекомендуется проверять официальную картотеку IEC или национальные органы стандартизации.

В: Это часть серии?

О: Да — часть семейства документов IEC 63202, включающего дополнительные части и технические спецификации (например, Part 2 — Electroluminescence imaging, Part 3 — I‑V характеристики бифациальных ячеек, Part 4 — LETID и другие части/TS в разработке), которые дополняют методы измерений и охватывают сопутствующие испытания и методы оценки качества ячеек.

В: Какие ключевые слова?

О: LID, LETID, кристаллический кремний, PV cells, солнечный симулятор, STC, Pmax, контроль качества, TC 82.