IEC 62132-4-2006 PDF

Полное наименование и описание

IEC 62132-4:2006 — Integrated circuits — Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz — Part 4: Direct RF power injection method. Стандарт описывает метод измерения электромагнитной устойчивости интегральных схем (ИС) в диапазоне 150 кHz–1 GHz с использованием метода прямой инжекции RF-мощности (Direct RF Power Injection, DPI).

Аннотация

Документ устанавливает процедуру и условия испытаний, позволяющие оценивать устойчивость полупроводниковых компонентов к проводимым ВЧ-помехам, обеспечивая при этом высокий уровень воспроизводимости и корреляции результатов между лабораториями. Стандарт предназначен для формирования общей базы оценки ИС, эксплуатируемых в средах с нежелательными радиочастотными полями.

Общая информация

• Статус: Международный стандарт — действующий / опубликован.
• Дата публикации: 21 февраля 2006 г. (Edition 1.0).
• Организация-издатель: Международная электротехническая комиссия (IEC), технический комитет TC 47/SC 47A — Integrated circuits.
• ICS / категории: 31.200 — Integrated circuits (микроэлектроника).
• Редакция / версия: Edition 1.0 (2006).
• Количество страниц: 49 (издание IEC).

Область применения

Стандарт применяется для испытаний электромагнитной устойчивости (conducted immunity) интегральных схем в диапазоне 150 kHz–1 GHz методом прямой инжекции RF-мощности. Метод ориентирован на оценку поведения ИC при проводимых ВЧ-помехах, которые могут возникать, например, вследствие излучаемых полей или наводок по проводникам внутри устройств. IEC 62132-4 задаёт требования к установленной аппаратуре, методике инжекции, калибровке и регистрации результатов, чтобы обеспечить воспроизводимость и сопоставимость измерений.

Ключевые темы и требования

• Диапазон частот и область применения: 150 kHz — 1 GHz; оценка проводимых RF-помех методом DPI.
• Требования к испытательному стенду: монтаж образца, заземление, экранирование элементов, способы подключения источника ВЧ-мощности.
• Метод инжекции: прямое введение RF-потока/мощности в проводники/выводы платы или компонента с использованием специализированных пробников/адаптеров; описание процедур калибровки уровня инжекции.
• Критерии устойчивости и фиксирования отказов: определение сигнатуры отказа, уровней тестирования, регистрируемых параметров и условий восстановления.
• Сопоставимость методов: указания по корреляции результатов с другими методами серии IEC 62132 (BCI, TEM/GTEM, Faraday workbench и др.).

Применение и пользователи

IEC 62132-4 в первую очередь полезен производителям полупроводников и модулей, независимым EMC-лабораториям, инженерам по надёжности и совместимости, а также разработчикам узлов электроники, где важна устойчивость к проводимым RF-помехам (включая автомобильную, промышленную и потребительскую электронику). Метод используется при внутренней валидации и при сравнительных испытаниях компонентов перед интеграцией в изделия.

Связанные стандарты

IEC 62132-4 является частью серии IEC 62132 (Integrated circuits — Measurement of electromagnetic immunity). Другие связанные части и смежные стандарты: IEC 62132-1 (общие условия и определения), IEC 62132-2 (TEM/wideband TEM), IEC 62132-3 (Bulk Current Injection — BCI), IEC 62132-5 (workbench Faraday cage), IEC 62132-8 (IC stripline method) и др. Кроме того, методики проводимой помехи перекликаются со стандартом IEC 61000-4-6 (Testing and measurement techniques — Immunity to conducted disturbances induced by RF fields).

Ключевые слова

IEC 62132-4, DPI, direct RF power injection, интегральные схемы, electromagnetic immunity, conducted immunity, 150 kHz–1 GHz, EMC испытания, калибровка инжекции, TC 47/SC 47A.

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: Международный стандарт IEC 62132-4:2006 описывает метод прямой инжекции RF-мощности (DPI) для измерения электромагнитной устойчивости интегральных схем в диапазоне 150 kHz–1 GHz.

В: Что он регулирует?

О: Стандарт регламентирует методику испытаний, требования к установке и оборудованию, методы калибровки и критерии фиксации отказов при оценке устойчивости ИС к проводимым ВЧ-помехам.

В: Кто обычно использует?

О: Производители микросхем и модулей, лаборатории EMC, инженеры по совместимости и надёжности, а также проектные группы изделий, где требуется проверка устойчивости компонентов к RF-помехам.

В: Он актуален или заменён?

О: На момент публикации IEC указывает издание 2006 года (Edition 1.0) как действующее; в карточке публикации присутствуют данные о стабильности. При этом общая часть серии (IEC 62132-1) получила обновление в 2015 году, поэтому рекомендуется проверять совместимость процедур и ссылок в более поздних редакциях серии при подготовке испытаний. Для официального статуса конкретного документа следует сверяться с последней информацией на ресурсах издателя.

В: Это часть серии?

О: Да — IEC 62132-4 является частью серии IEC 62132, включающей несколько методик измерения электромагнитной устойчивости ИС (части 1, 2, 3, 4, 5, 8 и др.).

В: Какие ключевые слова?

О: DPI, direct RF power injection, conducted immunity, electromagnetic immunity, integrated circuits, IEC 62132, 150 kHz–1 GHz.