IEC 62132-1-2015 PDF

Полное наименование и описание

IEC 62132-1:2015 — Integrated circuits — Measurement of electromagnetic immunity — Part 1: General conditions and definitions. Стандарт устанавливает общие условия, определения и требования к измерениям электромагнитной помехоустойчивости (проводных и излучаемых воздействий) интегральных схем, а также задаёт общие требования к оборудованию, процедурам испытаний и составу отчётов по испытаниям для всей серии IEC 62132.

Аннотация

Данный документ определяет единые термины и параметры испытаний, описывает требования к испытательным установкам (экранирование, генераторы, усилители), условиям окружающей среды, методам мониторинга функций ИС и содержанию отчётов. В приложении A приведены таблицы сравнения методов измерений, помогающие выбрать подходящую методику для конкретного типа измерений. Версия 2015 года вносит технические изменения по сравнению с предыдущим изданием, в т.ч. уточнения по частотным шагам выше 1 ГГц и пересмотр классификации характеристик ИС.

Общая информация

• Статус: Международный стандарт (действующий).
• Дата публикации: 29 октября 2015 г.
• Организация-издатель: International Electrotechnical Commission (IEC).
• ICS / категории: 31.200 — Electromagnetic compatibility (EMC).
• Редакция / версия: Издание 2.0 (2015).
• Количество страниц: 49.

Область применения

Стандарт применим к измерениям помехоустойчивости интегральных схем как в виде отдельных полупроводниковых кристаллов, так и в корпусах, установленным на печатные платы, и предназначен для использования вместе со специфическими частями серии IEC 62132, описывающими отдельные методы (проводные и радиочастотные техники, сканирующие методы и др.). Он служит основой для унификации условий испытаний, чтобы обеспечить воспроизводимость и сопоставимость результатов между лабораториями и производителями.

Ключевые темы и требования

• Общие определения и терминология, применяемые ко всем частям серии IEC 62132.
• Требования к испытательной аппаратуре: генераторы сигналов, усилители, экранирование, измерительные приборы и параметры их качества.
• Рекомендации по конструкции и развязке тестовой платы, подключению выводов ИС, схемам нагрузки и мониторингу функций.
• Параметры процедур: частотные шаги (особенно выше 1 ГГц), уровни и модуляция сигналов, времена выдержки и критерии оценки сбоев.
• Требования к содержанию отчётов об испытаниях и классификациям характеристик ИС (классы производительности).
• Таблицы сравнения методов и рекомендации по выбору метода измерений (приведены в приложении A).

Применение и пользователи

Стандарт предназначен для производителей интегральных схем, лабораторий EMC, инженеров по встраиваемым системам и специалистам по тестированию и верификации аппаратных средств. Он используется при разработке технологических карт испытаний, при сертификации компонентов для приложений с повышенными требованиями к помехозащищённости и при сравнительных исследованиях разных методик измерений.

Связанные стандарты

IEC 62132-1 является частью серии IEC 62132, каждая отдельная часть которой описывает конкретный метод измерений электромагнитной помехоустойчивости интегральных схем (проводные методы, радиолокационные/сканирующие методы и др.). В качестве примера см. IEC TS 62132-9:2014 (surface scan method) и другие части серии, которые дополняют общие требования этой части.

Ключевые слова

интегральные схемы, электромагнитная помехоустойчивость, EMC, тестовые условия, измерительные методики, тестовая плата, экранирование, мониторинг ИС, IEC 62132.

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: Международный стандарт IEC 62132-1:2015 задаёт общие условия, определения и требования к измерению электромагнитной помехоустойчивости интегральных схем и служит базой для остальных частей серии IEC 62132.

В: Что он регулирует?

О: Регулирует общие параметры испытаний: условия окружения, требования к оборудованию (генераторы, усилители, экранирование), процедуры мониторинга и критерии оформления отчётов об испытаниях. Конкретные методы измерений описаны в отдельных частях серии.

В: Кто обычно использует?

О: Производители микросхем, лаборатории EMC, инженеры по аппаратному обеспечению и верификации, исследовательские организации и стандартизирующие органы при разработке и тестировании ИС.

В: Он актуален или заменён?

О: Издание 2015 года является второй редакцией и заменило предыдущую редакцию 2006 г.; версия 2006 была отозвана в день публикации новой версии 29 октября 2015 г. IEC указывает текущую стабильность документа на период до 2029 г., что свидетельствует о статусе действующего международного стандарта на ближайшие годы.

В: Это часть серии?

О: Да — IEC 62132-1 — часть серии IEC 62132. Другие части и технические спецификации серии (например, TS 62132-9) описывают конкретные методики измерений: проводные методы, радиочастотные методы, сканирующие методы и т.д.

В: Какие ключевые слова?

О: интегральные схемы, помехоустойчивость, EMC, тестирование ИС, процедурa измерений, экранирование, тестовая плата, IEC 62132.