IEC 61967-1-2018 PDF

Полное наименование и описание

Интегрированные схемы — Измерение электромагнитных излучений — Часть 1: Общие условия и определения (IEC 61967-1:2018). Стандарт описывает общие условия и определения для измерения как проводимых, так и излучённых электромагнитных помех от интегрированных схем; включает требования к условиям измерений, испытательному оборудованию, монтажу испытаний и содержанию отчёта об испытаниях.

Аннотация

IEC 61967-1:2018 даёт единые общие условия для испытаний интегральных схем с целью получения количественной оценки радиочастотных (RF) помех. Стандарт помогает выбрать подходящий метод измерений (сравнительные таблицы методов приведены в приложении A), описывает критические параметры, влияющие на результаты, и фиксирует, какие отклонения от методики должны быть зафиксированы в отчёте. В этой редакции были внесены технические изменения: удалено упоминание диапазона 150 кГц–1 ГГц в заголовке, добавлены шаги частот выше 1 ГГц в соответствующие таблицы, общая спецификация платы испытаний перенесена в приложение D.

Общая информация

• Статус: Действующий (Current).
• Дата публикации: 12 декабря 2018 (12.12.2018).
• Организация-издатель: Международная электротехническая комиссия (IEC), Технический комитет TC 47/SC 47A.
• ICS / категории: 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics).
• Редакция / версия: Издание 2.0 (2018).
• Количество страниц: 51 страниц (базовая публикация).

Область применения

Документ устанавливает общие условия для измерения проводимых и излучённых RF-помех, исходящих от интегральных схем в контролируемых условиях, и определяет параметры, влияющие на результаты измерений. Конкретные применимые частотные диапазоны и технические детали приводятся в соответствующих частях серии IEC 61967. Результаты измерений предназначены для сравнений и для оценки вероятности возникновения помех в прикладных реализациях интегральной схемы.

Ключевые темы и требования

• Определения и общие условия для измерений проводимых и излучённых электромагнитных помех от ИС.
• Описание испытательного оборудования, рекомендованных конфигураций стенда и стандартизованной испытательной платы (перемещена в приложение D в редакции 2018 г.).
• Процедуры измерений, требования к калибровке и оформлению отчёта об испытаниях; таблицы сравнения методов для выбора подходящего метода (приложение A).
• Уточнения по частотной сетке: добавлены шаги частот выше 1 ГГц; в заголовке удалено указание диапазона 150 кГц–1 ГГц.
• Критические параметры, влияющие на воспроизводимость и корректность измерений, и указания по учёту отклонений от методики.

Применение и пользователи

Стандарт предназначен для лабораторий по испытанию EMC, производителей интегральных схем и их компонентов, инженеров по разработке и комплаенсу, проектировщиков плат и исследовательских групп, занимающихся анализом источников RF-помех в «чистом» виде (naked IC) и в типичных монтажных конфигурациях. Применяется как основа для сравнения измерений между разными методиками и для подготовки отчётов об оценке помехоспособности/излучений ИС.

Связанные стандарты

IEC 61967 — многотомная серия; часть 1 даёт общие условия, тогда как другие части описывают конкретные методы и процедуры: часть 2 — методы на основе TEM/GTEM для измерения излучённых помех; часть 3 — методика поверхностного сканирования (near-field surface scan); часть 4 — измерение проводимых помех методом прямого подключения 1 Ω/150 Ω; часть 6 — метод магнитной зондовой измерительной техники; часть 5 существовала как метод «workbench/Faraday cage» (издана в 2003 г.) и в 2024 г. отмечена как отозванная; дополнительно существуют технические отчёты и TR/TS, например IEC TR 61967-1-1 (формат обмена данными сканирования в ближнем поле). В приложении A части 1 упомянута и часть 61967-8 как связанная часть серии.

Ключевые слова

интегральные схемы; измерение электромагнитных излучений; EMC; проводимые помехи; излучённые помехи; TEM; GTEM; near-field scan; испытательная плата; IEC 61967.

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: Международный стандарт IEC 61967-1:2018 устанавливает общие условия, определения и требования к проведению измерений электромагнитных помех (проводимых и излучённых) от интегральных схем; служит базой для остальных частей серии IEC 61967.

В: Что он регулирует?

О: Описывает условия измерений, оборудование и конфигурации испытательного стенда, процедуры измерений и содержание отчёта; даёт критерии для воспроизводимости и сравнимости результатов между методиками и лабораториями.

В: Кто обычно использует?

О: EMC-лаборатории, производители и разработчики ИС, инженеры по комплаенсу и проектировщики плат, исследователи, выполняющие анализ источников RF-помех в интегральных схемах и при оценке их влияния в конечных приложениях.

В: Он актуален или заменён?

О: На момент публикации и по данным реестра IEC эта редакция 2.0 (2018) считается действующей. Для оценки актуальности следует проверять статус на официальном ресурсе IEC (включая возможные поправки или более поздние издания частей серии).

В: Это часть серии?

О: Да — IEC 61967 — серия документов, каждая часть которой описывает конкретные методы измерения (части 2, 3, 4, 6 и др.), а также сопутствующие технические отчёты (например, TR 61967-1-1) для обмена данных и уточнения методик.

В: Какие ключевые слова?

О: Интегральные схемы; EMC; радиочастотные помехи; измерение проводимых и излучённых помех; TEM/GTEM; near-field scan; 1 Ω/150 Ω; испытательная плата; стандартизация измерений.