TDS PDF
Определение характеристик межфазной адгезии в корпусах полупроводниковых приборов. Оригинальный документ JEDEC JEP167A-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Рекомендации по визуальному контролю корпусов с перевернутым кристаллом (FCxGA). Оригинальный документ JEDEC JEP170A-2024 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Процедуры измерений GDDR5. Оригинальный документ JEDEC JEP171-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Прекращение использования модели машины при квалификационных испытаниях приборов на стойкость к ЭСР. Оригинальный документ JEDEC JEP172A-2015 (2020) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Руководство по методам измерения динамического сопротивления в открытом состоянии силовых преобразовательных приборов на основе GaN HEMT. Версия 1.0. Оригинальный документ JEDEC JEP173-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Понимание электрических перегрузок (EOS). Оригинальный документ JEDEC JEP174-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий