IEC 62276-2025 PDF

Полное наименование и описание

IEC 62276:2025 — Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications — Specifications and measuring methods. Международный стандарт, устанавливающий требования и методы измерений для монокристаллических пластин, используемых в компонентах на основе поверхностных акустических волн (SAW).

Аннотация

Стандарт охватывает изготовление и приемо-сдаточные характеристики монокристаллических пластин из синтетического кварца, ниобата лития (LN), танталата лития (LT), тетрабората лития (LBO) и лантано-галлий-силикатного композита (LGS) для применения в SAW-фильтрах и резонаторах. В редакции 2025 года расширены термины и определения, уточнены технические требования, добавлены планы выборки и методы измерения (толщина, TV5, TTV, LTV, PLTV), допуски по температуре Кюри для LN и LT, определения включений и методы оценки светопропускания, светлоты и цветовой разницы.

Общая информация

• Статус: Международный стандарт — действующий.
• Дата публикации: 7 марта 2025 года.
• Организация-издатель: Международная электротехническая комиссия (IEC), Технический комитет TC 49.
• ICS / категории: 31.140 (электронные компоненты — пьезоэлектрические, диэлектрические и связанные материалы для управления частотой).
• Редакция / версия: Издание 4.0 (IEC 62276:2025).
• Количество страниц: 82 страницы (основная публикация IEC).

Область применения

Стандарт применим к производству и контролю качества монокристаллических пластин, используемых как подложки для SAW-фильтров и резонаторов. Охватываются требования по геометрическим размерам, допускам ориентации, шероховатости поверхностей, деформации (warp), однородности толщины и параметрам оптической прозрачности и цветности для определённых материалов. Рекомендован для производителей пластин, производителей SAW-компонентов, лабораторий контроля качества и закупочных служб.

Ключевые темы и требования

• Перечень материалов: синтетический кварц, LN, LT, LBO, LGS и требования к ним.
• Геометрические параметры: диаметр, толщина, ориентационные и ориентационные плоскости (orientation flat, secondary flat).
• Параметры плоскостности и толщинной неоднородности: TV5, TTV, LTV, PLTV и методы их измерения.
• Параметры поверхности: шероховатость лицевой и тыльной поверхностей, фронтальные дефекты, включения.
• Оптические характеристики для LN и LT: измерение пропускания, светлоты и цветовой разницы; требования к допускам.
• Допуски по температуре Кюри для LN и LT и требования к их указанию.
• Планы выборки, контрольные и испытательные методы, включая подробные методики измерений и критерии приемки.

Применение и пользователи

Основные пользователи стандарта — изготовители монокристаллических пластин, производители SAW-фильтров и резонаторов, подразделения контроля качества, сертификационные и испытательные лаборатории, а также специалисты по закупкам компонентов в электронике и телекоммуникациях. Стандарт также используется разработчиками технологического оборудования и участниками отраслевых рабочие групп по частотно-контролируемым устройствам. В ряде стран стандарт был адаптирован как национальный или региональный технический документ.

Связанные стандарты

Предыдущие редакции IEC 62276 (включая издание 2016) и региональные/национальные адаптации EN/UNE/EVS и др. Приёмо-сдаточные и методические ссылки на стандарты по методам измерения толщины, шероховатости и оптических характеристик могут быть включены в раздел нормативных ссылок IEC 62276:2025.

Ключевые слова

SAW, монокристаллические пластины, single crystal wafers, LN, LT, LBO, LGS, толщина, TV5, TTV, LTV, PLTV, пропускание, цветность, температура Кюри, методы измерений.

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: Международный технический стандарт IEC 62276:2025, задающий спецификации и методы измерений для монокристаллических пластин, предназначенных для применения в SAW-устройствах.

В: Что он регулирует?

О: Технические требования к материалам и геометрии пластин, критерии качества поверхности и объёма, оптические параметры для ряда материалов, планы выборки и конкретные методики испытаний и измерений.

В: Кто обычно использует?

О: Производители подложек и компонентов SAW, лаборатории контроля качества, разработчики и поставщики материалов и технологического оборудования, а также закупочные и сертификационные подразделения.

В: Он актуален или заменён?

О: IEC 62276:2025 — актуальная редакция, опубликованная 7 марта 2025 года; она является заменой предыдущих изданий (включая издание 2016). В информации о стабильности указана ориентировочная дата стабильности 2027.

В: Это часть серии?

О: Документ относится к группе стандартов и публикаций по пьезоэлектрическим материалам и устройствам частотного контроля, поддерживаемых TC 49. Он перекликается с другими нормами по методам измерений и материаловедению в области пьезоэлектрических и диэлектрических компонентов.

В: Какие ключевые слова?

О: SAW, монокристаллические пластины, LN, LT, LBO, LGS, TV5, TTV, LTV, PLTV, пропускание, цветность, методы измерений.