ГОСТ Р 8.698-2010
Название на английском:
GOST R 8.698-2010
Название на русском:
ГОСТ Р 8.698-2010
Описание на русском:
Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Описание на английском:
State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
40
Срок поставки (английская версия):
4 рабочих дня(ей)
Срок поставки (русская версия):
1 рабочий день
Артикул (SKU):
GOST38719