Yandex.Metrika counter

ГОСТ Р 71334-2024

ГОСТ Р 71334-2024

Название на английском:
GOST R 71334-2024

Название на русском:
ГОСТ Р 71334-2024

Описание на английском:

Epitaxial structures. Мethod for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference

Описание на русском:
Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции

Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
8

Срок поставки (английская версия):
2 рабочих дня(ей)

Срок поставки (русская версия):
1 рабочий день

Артикул (SKU):
GOST49426

Выберите версию документа:
3 000 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

ГОСТ 28756-90
Установки для получения электролитической меди. Показатели энергопотребления
1 200 руб.
ГОСТ 23462-2019
Продукция комбикормовой промышленности. Правила приемки, упаковка, маркировка, транспортирование и хранение
1 200 руб.
ГОСТ Р 70246-2022
Алгоритмы искусственного интеллекта в светолучевых установках с естественными и искусственными источниками излучения. Общие требования. Часть 1. Световое излучение
1 200 руб.
ГОСТ 13199-88
Полуфабрикаты волокнистые, бумага и картон. Метод определения массы продукции площадью 1 м кв.
1 200 руб.
ГОСТ 24588-81
Заготовки из модифицированной древесины. Марки и размеры
1 200 руб.
ГОСТ Р 59179-2021
Дороги автомобильные общего пользования. Материалы полимерные для устройства гидроизоляции плиты проезжей части мостового сооружения. Технические требования
1 200 руб.