Yandex.Metrika counter

ГОСТ Р 71334-2024

ГОСТ Р 71334-2024

Название на английском:
GOST R 71334-2024

Название на русском:
ГОСТ Р 71334-2024

Описание на английском:

Epitaxial structures. Мethod for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference

Описание на русском:
Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции

Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
8

Срок поставки (английская версия):
2 рабочих дня(ей)

Срок поставки (русская версия):
1 рабочий день

Артикул (SKU):
GOST49426

Выберите версию документа:
3 000 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

ГОСТ 31848-2012
Оборудование промышленное газоиспользующее. Воздухонагреватели. Общие технические требования
1 200 руб.
ГОСТ 16890-71
Плиты к скальчатым консольным кондукторам. Конструкция
1 200 руб.
ГОСТ Р ИСО 1140-2007
Изделия канатные полиамидные 3-, 4- и 8-прядные. Общие технические условия
1 200 руб.
ГОСТ 12.2.140-97
Тракторы малогабаритные, мотоблоки и мотокультиваторы. Общие требования безопасности
1 200 руб.
ГОСТ 14750-69
Ручки односторонние пластмассовые для насадных калибров. Конструкция и размеры
1 200 руб.
ГОСТ 9520-73
Станки отделочно-расточные вертикальные. Основные размеры
1 200 руб.