Yandex.Metrika counter

ГОСТ Р 71334-2024

ГОСТ Р 71334-2024

Название на английском:
GOST R 71334-2024

Название на русском:
ГОСТ Р 71334-2024

Описание на английском:

Epitaxial structures. Мethod for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference

Описание на русском:
Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции

Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
8

Срок поставки (английская версия):
2 рабочих дня(ей)

Срок поставки (русская версия):
1 рабочий день

Артикул (SKU):
GOST49426

Выберите версию документа:
3 000 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

ГОСТ Р ИСО 21438-3-2012
Воздух рабочей зоны. Определение неорганических кислот методом ионной хроматографии. Часть 3. Фтороводородная кислота и твердые фториды
1 200 руб.
ГОСТ Р 71631-2024
Сосуды и аппараты. Опоры вертикальных сосудов и аппаратов. Общие технические требования
3 000 руб.
ГОСТ 32328-2013
Нефтепродукты и смазочные материалы. Определение кислотного и щелочного чисел титрованием с цветным индикатором
1 200 руб.
ГОСТ IEC 61008-1-2020
Выключатели автоматические, управляемые дифференциальным током, бытового и аналогичного назначения без встроенной защиты от сверхтоков. Часть 1. Общие требования и методы испытаний
1 200 руб.
ГОСТ 26230-88
Линии автоматические для полного изготовления гаек. Ряд производительности
1 200 руб.
ГОСТ Р 53422-2009
Услуги бытовые. Ремонт и изготовление металлоизделий. Общие технические условия
1 200 руб.