Анионные и неионногенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод определения поверхностного натяжения с помощью пластины, скобы или кольца
Информационная технология. Европейская рамка ИКТ-компетенций 2.0. Часть 1. Общая европейская рамка компетенций ИКТ-специалистов для всех секторов индустрии
1 200 руб.
Задайте вопрос эксперту
Сообщение отправлено
Ваше сообщение отправлено. Наши специалисты скоро свяжутся с вами. Спасибо!