ГОСТ 26239.5-84

Наведите чтобы загрузить изображение

Название на английском:
GOST 26239.5-84

Название на русском:
ГОСТ 26239.5-84

Описание на английском:

Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination

Описание на русском:
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Статус документа:

Действующий

Формат:

Электронный (PDF)

Количество страниц:

18

Срок поставки (английская версия):

1 рабочий день

Срок поставки (русская версия):

1 рабочий день

Артикул (SKU):

GOST30324

Прокладки спирально-навитые термостойкие. Типы. Основные размеры

1 200 руб.

Миканит формовочный. Технические условия

1 200 руб.

Вибрация. Методы калибровки датчиков вибрации и удара. Часть 11. Первичная вибрационная калибровка методами лазерной интерферометрии

1 200 руб.

Калибры-пробки гладкие штампованные непроходные с насадками диаметром свыше 50 до 100 мм. Конструкция и размеры

1 200 руб.

Угли бурые, каменные и антрациты. Классификация по генетическим и технологическим параметрам

1 200 руб.

Самолеты и вертолеты. Номенклатура предъявительских документов

3 000 руб.